Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Laboratuvarı

Taramalı elektron mikroskobu metal, seramik, kompozit, polimer, kaplama ya da ince film malzemelerin yüzey ve kesit görüntülerinin incelenmesinde, toz numunelerin parçacık boyut ve şekillerini karakterize edilmesinde kullanılmaktadır.  Ayrıca mikroskop üzerine monte edilmiş olan EDAX dedektörü ile hem toz hem bulk hem de kaplamaların üzerinden hassas bir şekilde noktasal, alan, çizgisel, haritalama ve elementel analizler yapılabilmektedir. Ayrıca sıçratma cihazı ile numuneler altın kaplanabilmekte dolayısıyla iletken olmayan malzemelerin de bahsedilen tüm karakterizasyonları yapılabilmektedir.